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Description
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 296
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 134
Caractéristiques
- EAN:
- 9780120147762
- Date de parution :
- 01-05-05
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 165 mm x 234 mm
- Poids :
- 585 g
