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Advances in Imaging and Electron Physics
Optics of Charged Particle Analyzers Volume 161
275,45 €
+ 550 points
Description
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 304
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 161
Caractéristiques
- EAN:
- 9780123813183
- Date de parution :
- 25-03-10
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Ongenaaid / garenloos gebonden
- Dimensions :
- 155 mm x 229 mm
- Poids :
- 521 g
