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Advances in Imaging and Electron Physics
Volume 223
415,95 €
+ 831 points
Description
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 266
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 223
Caractéristiques
- EAN:
- 9780323988636
- Date de parution :
- 25-08-22
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 152 mm x 229 mm
- Poids :
- 526 g
