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Applied Scanning Probe Methods V
Scanning Probe Microscopy Techniques
116,45 €
+ 232 points
Description
Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes.- Electrostatic Microscanner.- Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections.- Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids.- High-Frequency Dynamic Force Microscopy.- Torsional Resonance Microscopy and Its Applications.- Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy.- Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale.- New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale.- Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 344
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642072116
- Date de parution :
- 25-11-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 548 g
