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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet

Degradation Behavior and Damage Mechanisms

Flora Li, Arokia Nathan
Livre relié | Anglais | Microtechnology and Mems
158,45 €
+ 316 points
Format
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Description

As the deep-ultraviolet (DUV) laser technology continues to mature, an increasing number of industrial and manufacturing applications are emerging. For example, the new generation of semiconductor inspection systems is being pushed to image at increasingly shorter DUV wavelengths to facilitate inspection of deep sub-micron features in integrated circuits. DUV-sensitive charge-coupled device (CCD) cameras are in demand for these applications. Although CCD cameras that are responsive at DUV wavelengths are now available, their long-term stability is still a major concern. This book describes the degradation mechanisms and long-term performance of CCDs in the DUV, along with new results of device performance at these wavelengths.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
232
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9783540226802
Date de parution :
01-03-05
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
157 mm x 229 mm
Poids :
539 g

Les avis