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Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology

Anand Asundi
Livre relié | Anglais | Microsystem and Nanotechnology
148,45 €
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Description

By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation and device testing and inspection.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
232
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9780470978696
Date de parution :
15-08-11
Format:
Livre relié
Format numérique:
Ongenaaid / garenloos gebonden
Dimensions :
157 mm x 236 mm
Poids :
498 g

Les avis