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Experimental Techniques for Material Characterization-Part-1
Vanarajsinh Solanki, Abhay Dasadia, Pramita Mishra
Livre broché | Anglais
39,45 €
+ 78 points
Description
This book focus on different material characterization tools focusing on morphology/topology and structural properties of the materials. In the chapter related to morphological characterization tools the book mainly discussed Transmission Electron Microscope (TEM), Scanning Electron Microscope (SEM), and Atomic Force Microscope (AFM) whereas structural characterization chapter includes the details of X-ray Diffractometer (XRD), Neutron diffraction, Raman Microscope, Selected Area Electron Di raction (SAED). Here, we have tried our best to explain each detail of the experimental techniques which will be very helpful to new learners.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 60
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9786200254405
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 150 mm x 220 mm
