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Description

This book explores specific optical techniques and methods in Full-Field based metrology. The text covers surface metrology and is useful for scientists and engineers. It explores other characteristics related to the surface, such as strain, stress, vibration, contouring, and its x, y, and z displacements. Also, the book presents modern methods for phase retrieval, and optical coherence tomography (OCT).

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
180
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9780750330251
Date de parution :
29-12-22
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
178 mm x 254 mm
Poids :
802 g

Les avis