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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Livre relié | Anglais
167,95 €
+ 335 points
Format
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Description

From materials science to integrated circuit development, much of modern technology is moving from the microscale toward the nanoscale. This book focuses on the fundamental physics underlying innovative techniques for analyzing surfaces and near-surfaces. New analytical techniques have emerged to meet these technological requirements, all based on a few processes that govern the interactions of particles and radiation with matter. This book addresses the fundamentals and application of these processes, from thin films to field effect transistors.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
336
Langue:
Anglais

Caractéristiques

EAN:
9780387292601
Date de parution :
16-02-07
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
166 mm x 234 mm
Poids :
703 g

Les avis