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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Livre broché | Anglais
152,95 €
+ 305 points
Format
Description
An Overview: Concepts, Units, and the Bohr Atom.- Atomic Collisions and Backscattering Spectrometry.- Energy Loss of Light Ions and Backscattering Depth Profiles.- Sputter Depth Profiles and Secondary Ion Mass Spectroscopy.- Ion Channeling.- Electron-Electron Interactions and the Depth Sensitivity of Electron Spectroscopies.- X-ray Diffraction.- Electron Diffraction.- Photon Absorption in Solids and EXAFS.- X-ray Photoelectron Spectroscopy.- Radiative Transitions and the Electron Microprobe.- Nonradiative Transitions and Auger Electron Spectroscopy.- Nuclear Techniques: Activation Analysis and Prompt Radiation Analysis.- Scanning Probe Microscopy.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 336
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441939807
- Date de parution :
- 29-10-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 494 g
