Nos liseuses Vivlio rencontrent actuellement des problèmes de synchronisation. Nous faisons tout notre possible pour résoudre ce problème le plus rapidement possible. Toutes nos excuses pour la gêne occasionnée !
  •  Retrait gratuit dans votre magasin Club
  •  7.000.000 titres dans notre catalogue
  •  Payer en toute sécurité
  •  Toujours un magasin près de chez vous     
Nos liseuses Vivlio rencontrent actuellement des problèmes de synchronisation. Nous faisons tout notre possible pour résoudre ce problème le plus rapidement possible. Toutes nos excuses pour la gêne occasionnée !
  •  Retrait gratuit dans votre magasin Club
  •  7.000.0000 titres dans notre catalogue
  •  Payer en toute sécurité
  •  Toujours un magasin près de chez vous

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Livre broché | Anglais
152,95 €
+ 305 points
Format
Livraison 1 à 4 semaines
Passer une commande en un clic
Payer en toute sécurité
Livraison en Belgique: 3,99 €
Livraison en magasin gratuite

Description

An Overview: Concepts, Units, and the Bohr Atom.- Atomic Collisions and Backscattering Spectrometry.- Energy Loss of Light Ions and Backscattering Depth Profiles.- Sputter Depth Profiles and Secondary Ion Mass Spectroscopy.- Ion Channeling.- Electron-Electron Interactions and the Depth Sensitivity of Electron Spectroscopies.- X-ray Diffraction.- Electron Diffraction.- Photon Absorption in Solids and EXAFS.- X-ray Photoelectron Spectroscopy.- Radiative Transitions and the Electron Microprobe.- Nonradiative Transitions and Auger Electron Spectroscopy.- Nuclear Techniques: Activation Analysis and Prompt Radiation Analysis.- Scanning Probe Microscopy.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
336
Langue:
Anglais

Caractéristiques

EAN:
9781441939807
Date de parution :
29-10-10
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
494 g

Les avis