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Description
"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 1004
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780824706005
- Date de parution :
- 27-11-01
- Format:
- Livre relié
- Dimensions :
- 184 mm x 262 mm
- Poids :
- 1960 g
