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Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
Xingchen Dong
48,45 €
+ 96 points
Description
Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 173
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9783844085174
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 149 mm x 12 mm
- Poids :
- 260 g
