•  Retrait gratuit dans votre magasin Club
  •  7.000.000 titres dans notre catalogue
  •  Payer en toute sécurité
  •  Toujours un magasin près de chez vous     
  •  Retrait gratuit dans votre magasin Club
  •  7.000.000 titres dans notre catalogue
  •  Payer en toute sécurité
  •  Toujours un magasin près de chez vous

Introduction to Optical Metrology

Rajpal S Sirohi
182,45 €
+ 364 points
Livraison 1 à 2 semaines
Passer une commande en un clic
Payer en toute sécurité
Livraison en Belgique: 3,99 €
Livraison en magasin gratuite

Description

Introduction to Optical Metrology examines the theory and practice of various measurement methodologies utilizing the wave nature of light. The book begins by introducing the subject of optics, and then addresses the propagation of laser beams through free space and optical systems. After explaining how a Gaussian beam propagates, how to set up a collimator to get a collimated beam for experimentation, and how to detect and record optical signals, the text:

  • Discusses interferometry, speckle metrology, moiré phenomenon, photoelasticity, and microscopy
  • Describes the different principles used to measure the refractive indices of solids, liquids, and gases
  • Presents methods for measuring curvature, focal length, angle, thickness, velocity, pressure, and length
  • Details techniques for optical testing as well as for making fiber optic- and MEMS-based measurements
  • Depicts a wave propagating in the positive z-direction by ei(ωt - kz), as opposed to ei(kz - ωt)

Featuring exercise problems at the end of each chapter, Introduction to Optical Metrology provides an applied understanding of essential optical measurement concepts, techniques, and procedures.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
449
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9781482236101
Date de parution :
20-08-15
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
157 mm x 234 mm
Poids :
762 g

Les avis