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Description
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 396
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780890062845
- Date de parution :
- 31-01-89
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 161 mm x 238 mm
- Poids :
- 771 g
