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MOS Interface Physics, Process and Characterization

Shengkai Wang, Xiaolei Wang
Livre broché | Anglais
62,45 €
+ 124 points
Format
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Description

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
162
Langue:
Anglais

Caractéristiques

EAN:
9781032106281
Date de parution :
29-01-24
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
152 mm x 229 mm
Poids :
240 g

Les avis