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Nanometer Variation-Tolerant Sram
Circuits and Statistical Design for Yield
Mohamed Abu Rahma, Mohab Anis
Livre relié | Anglais
162,45 €
+ 324 points
Format
Description
This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 172
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781461417484
- Date de parution :
- 27-09-12
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 157 mm x 234 mm
- Poids :
- 385 g
