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Optical System Alignment, Tolerancing, and Verification VIII
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Description
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 277
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781628412222
- Date de parution :
- 30-10-14
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 152 mm x 229 mm
