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Description
This work covers important aspects of X-ray spectrometry, from basic principles to the selection of instrument parameters and sample preparation. This edition explicates the use of combined X-ray fluorescence and X-ray diffraction data, and features new applications in environmental studies, forensic science, archeometry and the analysis of metals and alloys, minerals and ore, ceramic materials, catalysts and trace metals.;This work is intended for spectroscopists, analytical chemists, materials scientists, experimental physicists, mineralogists, biologists, geologists and graduate-level students in these disciplines.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 504
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780824795542
- Date de parution :
- 26-04-95
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 158 mm x 229 mm
- Poids :
- 766 g
