- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Alvin W Strong, Ernest Y Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune, Giuseppe La Rosa, Timothy D Sullivan, Stewart E Rauch
287,95 €
+ 575 points
Description
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms--from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 640
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780471731726
- Date de parution :
- 01-09-09
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 163 mm x 236 mm
- Poids :
- 979 g
