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Sem Microcharacterization of Semiconductors
Volume 12
61,45 €
+ 122 points
Description
Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 452
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 12
Caractéristiques
- EAN:
- 9780123538550
- Date de parution :
- 28-01-89
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 159 mm x 235 mm
- Poids :
- 816 g
