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Semiconductor Device and Failure Analysis

Using Photon Emission Microscopy

Wai Kin Chim
Livre relié | Anglais | Quality and Reliability Engineering
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Description

Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Wai Kin Chim
Editeur:
Wiley

Contenu

Nombre de pages :
288
Langue:
Anglais
Collection :
Quality and Reliability Engineering

Caractéristiques

EAN:
9780471492405
Date de parution :
22-12-00
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
178 mm x 254 mm
Poids :
716 g

Les avis