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Silver Metallization

Stability and Reliability

Daniel Adams, Terry L Alford, James W Mayer
Livre broché | Anglais | Engineering Materials and Processes
153,95 €
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Description

Introduction Silver Thin Film Analysis Diffusion Barriers and Self-encapsulation Thermal Stability Silver Electromigration Resistance Integration Issues Summary

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
123
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9781849967051
Date de parution :
14-03-12
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
199 g

Les avis