Nos liseuses Vivlio rencontrent actuellement des problèmes de synchronisation. Nous faisons tout notre possible pour résoudre ce problème le plus rapidement possible. Toutes nos excuses pour la gêne occasionnée !
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Nos liseuses Vivlio rencontrent actuellement des problèmes de synchronisation. Nous faisons tout notre possible pour résoudre ce problème le plus rapidement possible. Toutes nos excuses pour la gêne occasionnée !
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.0000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Description
Fundamentals of noise in optoelectronics.- Semiconductor technology for single-photon image sensing.- Hybrid Avalanche Photodiode Array (APD) Imaging.- Electron Bombarded Semiconductor Image Sensors.- Silicon Photomultipliers, SiPM.- Electron-Multiplying CCDs, EMCCD.- Monolithic Single-Photon Avalanche Photodetectors, SPAD.- Single-photon CMOS imaging through bandwidth optimization.-Architectures for low-noise CMOS electronic imaging.-Low-noise electronic imaging with double-gate FETs and charge-modulation devices.- Energy-sensitive single-photon X-ray and particle imaging.- Single-photon imaging for astronomy and aerospace applications.- Single-photon imaging for the life sciences.- Single-photon imaging for time-of-flight range 3D imaging
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 354
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 160
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642184420
- Date de parution :
- 03-08-11
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Ongenaaid / garenloos gebonden
- Dimensions :
- 155 mm x 231 mm
- Poids :
- 635 g
