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Description
Reviews various statistical methodologies that have been recently developed to model, analyse and optimize performance variations at both transistor level and system level in integrated circuit design. Coverage includes sources of process variations, variation characterization and modeling, Monte Carlo analysis, and response surface modeling.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 164
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781601980564
- Date de parution :
- 07-08-07
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 240 g
