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Synthetic Polymeric Membranes
Characterization by Atomic Force Microscopy
K C Khulbe, C Y Feng, Takeshi Matsuura
105,45 €
+ 210 points
Format
Description
Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool. Each chapter includes information on basic principles, commercial applications, an overview of current research and guidelines for future research.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 198
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9783540739937
- Date de parution :
- 17-12-07
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 160 mm x 239 mm
- Poids :
- 476 g
