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Synthetic Polymeric Membranes

Characterization by Atomic Force Microscopy

K C Khulbe, C Y Feng, Takeshi Matsuura
Livre broché | Anglais | Laboratory
118,45 €
+ 236 points
Format
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Description

Synthetic Membranes for Membrane Processes.- Atomic Force Microscopy.- Nodular Structure of Polymers in the Membrane.- Pore Size, Pore Size Distribution, and Roughness at the Membrane Surface.- Cross-sectional AFM Image.- Adhesion.- Membrane Surface Morphology and Membrane Performance.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
K C KhulbeC Y FengTakeshi Matsuura
Editeur:
Springer

Contenu

Nombre de pages :
198
Langue:
Anglais
Collection :
Laboratory

Caractéristiques

EAN:
9783642093272
Date de parution :
22-11-10
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
308 g

Les avis