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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
Livre relié | Anglais
167,95 €
+ 335 points
Format
Description
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 212
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441982964
- Date de parution :
- 27-09-11
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 503 g
