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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Santanu Chattopadhyay
Livre relié | Anglais
79,95 €
+ 159 points
Format
Description
This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level
Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques
This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 118
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9780815378822
- Date de parution :
- 25-04-18
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 140 mm x 216 mm
- Poids :
- 308 g
