Vous voulez être sûr que vos cadeaux seront sous le sapin de Noël à temps? Nos magasins vous accueillent à bras ouverts. La plupart de nos magasins sont ouverts également les dimanches, vous pouvez vérifier les heures d'ouvertures sur notre site.
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Vous voulez être sûr que vos cadeaux seront sous le sapin de Noël à temps? Nos magasins vous accueillent à bras ouverts. La plupart de nos magasins sont ouverts également les dimanches, vous pouvez vérifier les heures d'ouvertures sur notre site.
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.0000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Description
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two- or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi- crystals. The interaction of the X-rays with the periodic arrangement of atoms usually provides structural information about the scatterer. Unlike the usual Bragg reflection, the so-called two-wave diffraction, the multiply diffracted intensities are sensitive to the phases of the structure factors in- volved. This gives X-ray multiple-wave diffraction the chance to solve the X-ray phase problem. On the other hand, the condition for generating an X- ray multiple-wave diffraction is much more strict than in two-wave cases. This makes X-ray multiple-wave diffraction a useful technique for precise measure- ments of crystal lattice constants and the wavelength of radiation sources. Recent progress in the application of this particular diffraction technique to surfaces, thin films, and less ordered systems has demonstrated the diver- sity and practicability of the technique for structural research in condensed matter physics, materials sciences, crystallography, and X-ray optics. The first book on this subject, Multiple Diffraction of X-Rays in Crystals, was published in 1984, and intended to give a contemporary review on the fundamental and application aspects of this diffraction.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 436
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 143
Caractéristiques
- EAN:
- 9783540211969
- Date de parution :
- 24-06-04
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 807 g
