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Advances in Electronic Testing

Challenges and Methodologies

Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 27
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Description

This new volume in the Frontiers in Electronic Testing book series is devoted to recent advances in electronic circuits testing. The book is a comprehensive elaboration on important topics which capture major research and development efforts today. The motivation and inspiration behind this book is to deliver a thorough text that focuses on the evolution of test technology, provides insight about the abiding importance of discussed topics, records today's state-of-the-art and industrial practices and trends, reveals the challenges for emerging testing methodologies, and envisages the future of this journey. The book consists of eleven edited chapters written by experts in Defect-Oriented Testing, Nanometer Technologies Failures and Testing, Silicon Debug, Delay Testing, High-Speed Test Interfaces, DFT-Oriented Low-Cost Testers, Embedded Cores and System-on-Chip Testing, Memory Testing, Mixed-Signal Testing, RF Testing and Loaded Board Testing. The book is intended for advanced undergraduate and graduate students, and professionals in the electronic testing realm.

Spécifications

Parties prenantes

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
412
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 27

Caractéristiques

EAN:
9780387294087
Date de parution :
23-01-06
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
167 mm x 242 mm
Poids :
911 g

Les avis