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Résultats pour "Frontiers in Electronic Testing"
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Embedded Processor-Based Self-Test
Dimitris Gizopoulos, A Paschalis, Yervant Zorian
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 28
- Embedded Processor-Based Self-Test is a guide to self-testing strategies for embedded processors. Embedded processors are regularly used today in most... Savoir plus
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 30
- Fault and Fault Modelling.- Test Stimulus Generation.- Fault Diagnosis Methodology.- Design for Testability and Built-In Self-Test. Savoir plus
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Leendert M Huisman
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 31
- Introduction.- Statistics.- Yield Statistics.- Area Dependence of the Yield.- Statistics of Embedded Object Fails.- Fail Commonalities.- Spatial Patte... Savoir plus
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Xinghao Chen, Michael L Bushnell
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 4
- Branch-and-bound search has been known for a long time and has been widely used in solving a variety of problems in computer-aided design (CAD) and ma... Savoir plus
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Advances in Electronic Testing
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 27
- This is a new type of edited volume in the Frontiers in Electronic Testing book series devoted to recent advances in electronic circuits testing. The ... Savoir plus
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Multi-Chip Module Test Strategies
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 7
- MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cos... Savoir plus
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Introduction to Advanced System-On-Chip Test Design and Optimization
Erik Larsson
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 29
- SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization . It gives an introduction t... Savoir plus
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Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 23
- This is a comprehensive guide to fault injection techniques used to evaluate the dependability of a digital system. The description and the critical a... Savoir plus
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Vikram Iyengar, Anshuman Chandra
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 20
- Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SO... Savoir plus
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The Core Test Wrapper Handbook
Francisco Da Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 35
- The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500tm provides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500. T... Savoir plus
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On-Line Testing for VLSI
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 11
- Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended func... Savoir plus
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High Performance Memory Testing
R Dean Adams
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 22
- Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bi... Savoir plus
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Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
José T de Sousa, Peter Y K Cheung
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 18
- This pioneering text explains how to synthesize digital diagnostic sequences for wire interconnects using boundary-scan, and how to assess the quality... Savoir plus
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Gloria Huertas Sánchez, Diego Vázquez García de la Vega, Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 36
- This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The resul... Savoir plus
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Elements of Stil
Gregory A Maston, Tony R Taylor, Julie N Villar
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 24
- Standard - Test In. terface ____________________ Language So I was wrong. I was absolutely sure that by having an IEEE Standard defined, reviewed, and... Savoir plus
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 34
- The 2 nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Ana... Savoir plus
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Introduction to Iddq Testing
S Chakravarty, Paul J Thadikaran
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 8
- Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a ... Savoir plus
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Soft Errors in Modern Electronic Systems
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 41
- Provides a comprehensive presentation of the most advanced research results and technological developments enabling understanding, qualifying and miti... Savoir plus
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
M Bushnell, Vishwani Agrawal
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 17
- The modern electronic testing has a forty year history. Test professionals hold some fairly large conferences and numerous workshops, have a journal, ... Savoir plus
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Multi-Chip Module Test Strategies
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 7
- MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cos... Savoir plus
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Testability Concepts for Digital ICS
F P M Beenker, R G Bennetts, A P Thijssen
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 3
- Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behavio... Savoir plus
259,45 €Livraison 2 à 3 semaines259,45 €Livraison 2 à 3 semaines -
Elements of Stil
Gregory A Maston, Tony R Taylor, Julie N Villar
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 24
- Standard - Test In. terface ____________________ Language So I was wrong. I was absolutely sure that by having an IEEE Standard defined, reviewed, and... Savoir plus
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Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Victor Champac, Jose Garcia Gervacio
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 39
- This book discusses the digital design of integrated circuits under process variations, with a focus on design-time solutions. The authors describe a ... Savoir plus
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Economics of Electronic Design, Manufacture and Test
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing
- The general understanding of design is that it should lead to a manufacturable product. Neither the design nor the process of manufacturing is perfect... Savoir plus
167,95 €Livraison 1 à 4 semaines167,95 €Livraison 1 à 4 semaines