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Résultats pour "Manoj Sachdev"
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Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev
- Livre relié | Anglais
- ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies is intended for practicing engineers working in the areas of circuit design, V... Savoir plus
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 34
- The 2 nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Ana... Savoir plus
181,95 €Livraison 1 à 2 semaines181,95 €Livraison 1 à 2 semaines -
Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev
- Livre broché | Anglais
- Dedication. Preface. Acknowledgments. 1. INTRODUCTION. 1. Nature of ESD phenOmena. 2. ESD failures in nanometric technologies. 3. Circuit reliability:... Savoir plus
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Arman Vassighi, Manoj Sachdev
- Livre broché | Anglais | Integrated Circuits and Systems
- Power, Junction Temperature, and Reliability.- Burn-in as a Reliability Screening Test.- Thermal and Electrothermal Modeling.- Thermal Runaway and The... Savoir plus
167,95 €Livraison 1 à 4 semaines167,95 €Livraison 1 à 4 semaines -
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 40
- The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design consid... Savoir plus
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Arman Vassighi, Manoj Sachdev
- Livre relié | Anglais | Integrated Circuits and Systems
- In Thermal and Power Management of Integrated Circuits , power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions... Savoir plus
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 34
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