- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
167,95 €
+ 335 points
Format
Description
Power, Junction Temperature, and Reliability.- Burn-in as a Reliability Screening Test.- Thermal and Electrothermal Modeling.- Thermal Runaway and Thermal Management.- Low Temperature CMOS Operation.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 182
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441938329
- Date de parution :
- 29-11-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 276 g
