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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test
Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
181,95 €
+ 363 points
Description
The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 194
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 40
Caractéristiques
- EAN:
- 9781402083624
- Date de parution :
- 21-06-08
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 476 g
