Nos liseuses Vivlio rencontrent actuellement des problèmes de synchronisation. Nous faisons tout notre possible pour résoudre ce problème le plus rapidement possible. Toutes nos excuses pour la gêne occasionnée !
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Description
Introduction.- Statistics.- Yield Statistics.- Area Dependence of the Yield.- Statistics of Embedded Object Fails.- Fail Commonalities.- Spatial Patterns.- Test Coverage and Test Fallout.- Logic Diagnosis.- Slat Based Diagnosis.- Data Collection Requirements.- Appendix A. Distribution of IC Fails.- Appendix B. General Yield Model.- Appendix C. Simplified Center-Satellite Model.- Appendix D. Quadrat Analysis.- Appendix E. Cell Fail Probabilities.- Appendix F. Characterization Group.- Appendix G. Component Fail Probabilities.- Appendix H. Yield and Coverage.- Appendix I. Estimating First Fail Probabilities from the Fallout.- Appendix J. Identity of M and S.- References.- Index.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 250
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 31
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441937674
- Date de parution :
- 08-12-10
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 385 g
