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High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

R Dean Adams
Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 22
259,45 €
+ 518 points
Format
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Description

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
250
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 22

Caractéristiques

EAN:
9781402072550
Date de parution :
30-09-02
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
161 mm x 247 mm
Poids :
562 g

Les avis