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  7. Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations

Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations

Victor Champac, Jose Garcia Gervacio
Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 39
126,95 €
+ 253 points
Format
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Description

This book discusses the digital design of integrated circuits under process variations, with a focus on design-time solutions. The authors describe a step-by-step methodology, going from logic gates to logic paths to the circuit level. Topics are presented in comprehensively, without overwhelming use of analytical formulations. Emphasis is placed on providing digital designers with understanding of the sources of process variations, their impact on circuit performance and tools for improving their designs to comply with product specifications. Various circuit-level "design hints" are highlighted, so that readers can use then to improve their designs. A special treatment is devoted to unique design issues and the impact of process variations on the performance of FinFET based circuits. This book enables readers to make optimal decisions at design time, toward more efficient circuits, with better yield and higher reliability.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
185
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 39

Caractéristiques

EAN:
9783030092399
Date de parution :
12-01-19
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
290 g

Les avis