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Advances in X-Ray Analysis

Volume 10

John B Newkirk, Gavin R Mallett
Livre broché | Anglais
112,95 €
+ 225 points
Format
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Description

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses- sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
John B NewkirkGavin R Mallett
Editeur:
Springer

Contenu

Nombre de pages :
558
Langue:
Anglais

Caractéristiques

EAN:
9781468478372
Date de parution :
12-06-12
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
178 mm x 254 mm
Poids :
984 g

Les avis