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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
Atomic-Scale Structure Determination
Yoshio Waseda
210,95 €
+ 421 points
Format
Description
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 214
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 179
Caractéristiques
- EAN:
- 9783540434436
- Date de parution :
- 11-09-02
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 503 g
