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Atom Probe Field Ion Microscopy

M K Miller, A Cerezo, M G Hetherington, G D W Smith
Livre relié | Anglais | Monographs on the Physics and Chemistry of Materials | n° 52
323,45 €
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Description

The atom probe technique permits the imaging and chemical identification of individual and solid surfaces. It is one of the most important experimental methods in the emerging field of atomic-scale science and technology. This book gives a definitive and up-to-date account of the field, and is written by leading authorities on the subject. It includes recent advances in the method which have allowed for new and exciting applications to emerge in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
532
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 52

Caractéristiques

EAN:
9780198513872
Date de parution :
28-11-96
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
162 mm x 241 mm
Poids :
1002 g

Les avis