- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
Electrical and Thermal Characterization of MESFETs, HEMTs and HBTs
Robert Anholt
256,95 €
+ 513 points
Description
This work provides a comprehensive discussion of the bias dependence of equivalent circuit parameters for the three devices and an extensive discussion of temperature dependence. It: covers recess-etched MESFETs and self-aligned MESFETs with and without lightly-doped-drains and JFETs; analyzes GaAs-based pHEMTS and InP lattice-matched HEMT equivalent circuits; and describes a large-signal, temperature-dependent model extractor for A1GaAs-GaAs HBTs. The book is intended for circuit designers, process and device developers and test engineers.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 324
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780890067499
- Date de parution :
- 30-11-94
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 160 mm x 237 mm
- Poids :
- 603 g
