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Electron Microscopy and Analysis 2003

Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, 3-5 September 2003

Livre relié | Anglais | Institute of Physics Conference | n° 179
534,45 €
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Description

Electron microscopy is now a mainstay characterization tool for solid state physicists and chemists as well as materials scientists. Containing the proceedings from the Electron Microscopy and Analysis Group (EMAG) conference in September 2003, this volume covers current developments in the field, primarily in the UK. These conferences are biennial events organized by the EMAG of the Institute of Physics to provide a forum for discussion of the latest developments in instrumentation, techniques, and applications of electron and scanning probe microscopies.

Spécifications

Parties prenantes

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
506
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 179

Caractéristiques

EAN:
9780750309677
Date de parution :
19-02-04
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
166 mm x 237 mm
Poids :
979 g

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