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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Ching-Han Tsai, Chin-Chi Teng, Sung-Mo (Steve) Kang
Livre broché | Anglais
162,45 €
+ 324 points
Format
Description
This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present three important applications of VLSI electrothermal analysis: temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement, and temperature-driven power and timing analysis.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 210
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781475773736
- Date de parution :
- 20-04-13
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 340 g
