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Evolution of Thin Film Morphology

Modeling and Simulations

Matthew Pelliccione, Toh-Ming Lu
Livre relié | Anglais | Springer Materials Science | n° 108
195,95 €
+ 391 points
Format
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Description

Thin?lmdepositionisthemostubiquitousandcriticaloftheprocessesusedto manufacture high-tech devices such as microprocessors, memories, solar cells, microelectromechanicalsystems(MEMS), lasers, solid-statelighting, andp- tovoltaics. The morphology and microstructure of thin ?lms directly controls their optical, magnetic, and electrical properties, which are often signi?cantly di?erent from bulk material properties. Precise control of morphology and microstructure during thin ?lm growth is paramount to producing the - sired ?lm quality for speci?c applications. To date, many thin ?lm deposition techniques have been employed for manufacturing ?lms, including thermal evaporation, sputterdeposition, chemicalvapordeposition, laserablation, and electrochemical deposition. The growth of ?lms using these techniques often occurs under highly n- equilibrium conditions (sometimes referred to as far-from-equilibrium), which leads to a rough surface morphology and a complex temporal evolution. As atoms are deposited on a surface, atoms do not arrive at the surface at the same time uniformly across the surface. This random ?uctuation, or noise, which is inherent to the deposition process, may create surface growth front roughness. The noise competes with surface smoothing processes, such as surface di?usion, to form a rough morphology if the experiment is performed at a su?ciently low temperature and / or at a high growth rate. In addition, growth front roughness can also be enhanced by growth processes such as geometrical shadowing. Due to the nature of the deposition process, atoms approaching the surface do not always approach in parallel; very often atoms arrive at the surface with an angular distribution.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
206
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 108

Caractéristiques

EAN:
9780387751085
Date de parution :
30-11-07
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
485 g

Les avis