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  7. High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip

High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip

Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay
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Description

This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
197
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9789811093210
Date de parution :
12-05-18
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
312 g

Les avis