- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler
Livre broché | Anglais
118,95 €
+ 237 points
Format
Description
Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 193
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9781489988478
- Date de parution :
- 20-10-14
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 303 g
