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Introduction to Advanced System-On-Chip Test Design and Optimization
Erik Larsson
181,95 €
+ 363 points
Format
Description
Testing Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 388
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 29
Caractéristiques
- EAN:
- 9781441952691
- Date de parution :
- 02-02-11
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 571 g
