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Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces
105,45 €
+ 210 points
Description
Introduction.- I. Technical Aspects.- Experimental technique and working modes.- Phase Modulation Kelvin Probe Microscopy.- Data interpretation, spatial resolution and deconvolution.- Contribution of the numerical approach to Kelvin probe force microscopies.- Quantum mechanical simulations of electrostatic tip-sample interactions.- II. Selected Applications.- Surface properties of III-V semiconductors.- Electronic surface properties of semiconductors devices.- Optoelectronic studies of solar cells.- Electrical characterization of low dimensional systems (quantum/nano-structures).- Electronic structure of molecular assemblies.- KPFM for biochemical analysis.- Local work function analysis of photo catalysts.- Kelvin probe force microscopy with atomic resolution.- Summary.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 334
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 48
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642225659
- Date de parution :
- 22-10-11
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 157 mm x 234 mm
- Poids :
- 612 g
