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Lock-In Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
105,45 €
+ 210 points
Format
Description
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 258
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 10
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642024160
- Date de parution :
- 05-09-10
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 160 mm x 234 mm
- Poids :
- 498 g
