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Microstructural Characterisation Techniques

Gunturi Venkata Sitarama Sastry
Livre relié | Anglais | Indian Institute of Metals
83,95 €
+ 167 points
Format
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Description

This textbook is aimed at graduate and upper undergraduate students studying materials science and metallurgy. It comprehensively covers the topic of microstructural characterization and includes an emphasis on Fourier analysis and Fourier transformation, electron diffraction, electromagnetic waves and electron waves, lens parameters, transmission electron microscopy, optical microscopy and scanning electron microscopy. The author has included pedagogical features such as end-of-chapter exercises and worked examples with varying degrees of difficulty to augment learning and self-testing. This book will be a useful guide for upper undergraduate and graduate students along with researchers and professionals working in the field of microstructural characterization.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
242
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9789811935084
Date de parution :
16-09-22
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
155 mm x 236 mm
Poids :
544 g

Les avis